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最后更新时间: 2023/2/16 11:53:31
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CH-1-S型薄膜测厚仪
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CH-1-S型薄膜测厚仪一、 概述本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。二、主要参数1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm2. 上测头曲率半径:15-50mm3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N4. 测量精度:100vm以内<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm
苏勇
13376773787
崇新电路板有限公司
电话:086-0762-3696882
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