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目前大多数数字电路板测试系统基本上都是针对不带CPU、FPGA的数字电路板进行测试和故障诊断，这类电路板所具有的共同点就是响应与激励一一对应，即由程序控制自动测试设备向电路板输入信号，当电路板的输入确定时，电路板产生相应的输出信号，根据这种固定的输入输出关系很容易判断电路板的故障，并判断故障节点。但是对于带微处理器件的电路板，不能简单的使用这种测试方法在ATE设备上进行故障检测。由于微处理器采用三总线或者编程端口对电路进行控制，因此这类电路板的输入输出的时序并不是固定的，也就导致每次输入激励和输出响应不一定是一一对应的。针对这个问题，判断故障时必须对总线信号或端口信号进行可靠控制，以保证每次均是同步测试，也就是要保证每次输入激励信号在时序上是一致的。这样再和预期响应信号比较时才不会因为时序差别而错误判断故障。
微处理器的控制信号实际上是数字信号，而测试系统能提供104路以上的动态I/O信号，因此可以采用测试系统的I/O信号模拟微处理器各管脚信号，驱动电路中的其他功能模块，从而达到模拟微处理器件时序，完成同步测试的目的，并有效检测出其他功能模块的故障。如果其他功能模块均正常而电路板不能工作，则可将故障定位到微处理器上。
以某CPU装备板为例，验证系统的I/O测试能力。该电路板CPU通过串并行总线控制FLASH、温度传感器和驱动电机。
基于PXI总线的数字电路故障诊断系统，平台可以选择I/O信号电平电压、每周期改变I/O信号方向，在软件提供的图形化开发环境编辑测试激励及响应信号，并采集响应信号，以交互式的方式对电路板进行测试。该系统能够准确定位电路板故障，有效提高了测试效率。
