煤矿用高温加速老化试验箱厂 创造辉煌 徐州东控科技供应

HAST测试案例分析：JESD22-A118A-2011芯片加速防潮性HAST测试用来评估电子元器件在潮湿环境中的可靠性能，通过模拟严酷的温度、高湿度，提高水汽压力，使得包封料或密封料渗透分层，或沿着外部保护材料和金属导体介面的渗透，导致样品失效。该失效模拟方案与JESD22-A101-B中参数85℃、85%RH高温高湿稳态温度寿命试验效果相似，但该试验过程未施加偏压，使得失效机理不受偏压因素影响。另外，吸收的水汽会降低大部分高聚物材料的玻璃化转变速度，特别是温度高过玻璃化转变温度时，煤矿用高温加速老化试验箱厂，有可能导致非真实失效状况出现。芯片常用测试条件：110℃，85%RH，264小时，煤矿用高温加速老化试验箱厂。HAST加速防潮测试条件，与85°C高温、85％RH高湿测试条件而言，HAST更加容易产生水分湿气，从而导致产品或器件腐蚀、绝缘劣化，较为快速发现产品设计故障。针对电子元器件，煤矿用高温加速老化试验箱厂、PCB、芯片而言，HAST试验条件相当极端，加速因子在几十到几百倍之间，此类极端的加速模拟可靠性测试，确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式。高温加速