分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，又占用过多测试台的空间；而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定性及更慢的总线传输速度等缺点。 实施半导体分立器件特性参数分析的**工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、 波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。iv曲线扫描仪半导体iv测试仪器之数字源表认准普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六
针对OFET等三端类型器件以及多样品验证测试，可直接通过2台数字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道测试系统。
- 国产化数字源表，四象限工作
- 单通道/多通道方案可选
（**高可实现40通道同时测量）
- 支持直流/脉冲测试，测量范围广
- 分辨率强，测试精度高近些年来，我国各行各业迅猛发展，特别在科学研发领域，例如仪器仪表测量领域的数字示波器，数字万用表，数字源表等，它们的诞生都有一个共同点，那就是细分类，专注某个环节性功能而补齐，
iv曲线扫描仪半导体iv测试仪器优点：
同时**提供和测量电压和/或电流；
同步测量，减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压；
电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A
支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；
序列测试，简化操作，降低成本
采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；
触屏操作
