膜厚仪
◇膜厚仪说明书
本膜厚仪是一种专用于测量镀铝膜厚度的仪器。它能快速、无损伤、**地进行非导电基体上金属覆层厚度的测量,仪器配置专用的传感器,检测压力恒定,接触可靠,性能稳定,寿命长。该仪器体积小,传感器与主机设计合理,特别适用于现场测量。
◇技术参数:
测量范围:0.0~99.0Ω/□
分 辨 率:0.1Ω/□
◇使用环境:
温 度:5℃~40℃
湿 度:20%~80%RH
其 他:无较强的电场干扰
电 源:220V±10%,50/60Hz,3VA
外形尺寸:200 mm×80 mm×200mm
重 量:主机1.5kg,传感器1.2kg
配 置:主机1台;传感器1台;连接线1根
捷瑞达电气
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