温度冲击试验箱
温度冲击试验箱主要用途:适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
温度冲击试验箱符合标准:符合GB2423.22-89Na、GJB150.5-86、MIL-STD-810-503.2等标准。
温度冲击试验箱技术参数:
型号:DECS-100B
工作室尺寸(mm): 600*400*450
外箱尺寸(mm):1500*2000*2200
高温区部分:常温至+150℃
低温区部分:0℃至-40℃。
高 温:常温至+150℃。
低 温:0℃至~-40℃。
控制精度:+(-)2℃。
解析精度:0.01℃。
高温区升温时间:自常温至150℃,约55分钟。3℃/min
低温区降温时间:自常温至 -60℃,约85分钟。1℃/min
测试区温度恢复时间:3-5分钟。