新款温度冲击箱
温度冲击实验箱主要用途：适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
温度冲击实验箱符合标准:符合GB2423.22-89Na、GJB150.5-86、MIL-STD-810-503.2等标准。
温度冲击实验箱箱体结构：
设备有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。
冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围（一箱三用）。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。
温度冲击实验箱技术参数：
型号：DECS-100B
工作室尺寸（mm）： 600*400*450
外箱尺寸（mm）：1500*2000*2200
高温区部分：常温至+150℃
低温区部分：0℃至-40℃。
高温：常温至+150℃。
低温：0℃至～-40℃。
控制精度：+(-)2℃。
解析精度：0.01℃。
高温区升温时间：自常温至150℃，约55分钟。3℃/min
低温区降温时间：自常温至 -60℃，约85分钟。1℃/min
测试区温度恢复时间：3-5分钟。
