DIATEST塞规
DIATEST塞规具有高精密静态孔径测量和动态孔径测量功能。既可用于手动检测尺寸偏差和形状缺陷错误的孔径检测仪器，也可以安装在测量设备和自动化系统上。测量范围从Ø 2.98到270mm，测量深度：0.6-2000mm，重复精度：≤1μm，线性误差：≤1％，使用寿命：满足100万次以上测量要求。
DIATEST塞规特点：
- 快速测量孔直径、孔的圆度和孔的椭圆度
- 尤其适用于手动和自动测量大批量生产的高公差等级内孔零件
- 自动定中心，测量时不用在孔内寻找拐点
- 使用数显显示表读数和对测量结果进行后续分析的理想选择
- 孔径测量仪的测头由镀硬铬圆柱导向体和碳钢测点组成
- 碳钢测针将测点的径向移动距离1:1传递给显示表
- 内置式弹性体提供了连续的测力，因此消除了人为因素
- 孔径测量仪由塞规式测头、手柄、深度延长杆、限位块和直角附件等组成模块式系统，使用范围广泛
- 适用范围：通孔、盲孔、锥孔、台阶孔、方孔等
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DIATEST标准塞规式测头形式
BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96
DIATEST通孔塞规式测头形式
BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97
BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00
DIATEST盲孔塞规式测头形式
BMD-FB6-CR-8.984
BMD-FB10-CR-41.973
BMD-FB10-CR-59.977
BMD-FB10-CR-100.00
DIATEST自动测量用塞规式测头
BMD-D10-CR-30.0-RK
BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm
BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML
DIATEST特殊形式BMD塞规式测头
BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0
BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
BMD-S10-CR-30.0-UM
BMD-S10-CR-10.0-2R
BMD-S10-CR-35.0-3P
BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11
DIATEST测量平行槽用PA测头
BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3
DIATEST多截面测头
BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12、BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18
BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13、BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1
BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3、BMD-4ME-24-26-4
BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38
