电子产品高加速寿命HALT试验

高加速寿命试验HALT

简要介绍：高加速寿命试验英文简称为HALT，与传统的可靠性试验相比，HALT试验的目的是激发故障，即把产品潜在的缺 陷激发成可观测的故障。因此，它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验，而是人为施加步进应力，在远大于技术条件 规定的极限应力下快速进行试验，找出产品的各种工作极限与破坏极限。

HALT试验有如下优点：利用高环境应力，提早使产 品设计缺陷被激发出来，从而消除缺陷，大大提高设计可靠性。产品的设计周期大大减少。生产费用大大降低。因为交付的 产品具备更高的可靠性，所以维修费用大大降低。

1.HALT（高加速寿命测试）：Highly accelerated life test是一种发现设计缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加速环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，**的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。

2.HASS（高加速应力筛选）：Highly accelerated stress screen是产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后在生产**做高加速应力筛选。要求100%的产品参加筛选。其目的是为了使得生产的产品不存在任何隐患的缺陷或者至少在产品还没有出厂前找到并解决这些缺陷,HASS就是通过加速应力以期在短时间内找到有缺陷的产品，缩短纠正措施的周期，并找到具有同样问题的产品。

3.HASA（高加速应力抽检筛选）：Highly accelerated stress audit是一种在产品批量生产阶段使用抽样理论的筛选试验方法。它可以防止有缺陷的产品交付到客户的手中。

试验项目：a.低温步进应力试验；b.高温步进应力试验；c.快速热循环试验；

                 d.振动步进应力试验；e.综合应力试验；f.工作应力测试。

应用领域：汽车产品、电子电气零部件、通讯产品、航空器材、PCB、PCBA、仪器仪表、家用电器、医疗器械等。

主

要仪器：高加速寿命（HALT）试验箱。

参考标准：GB/T 29309等。