系统规格                                           

测试点数  标准配备:320点                                               

       大型主机:可以扩充至4096点                                            

测试项目  **测试步骤:300000setp                                                

测试时间  开路/短路测试:每1000点约≤1Sec(TypicalDUT)                                             

       元件测试:每一元件约0.5mSec至30mSec(TypicalDUT)                                          

测试范围  电阻：直流定电流(CC)  0.01Ω至40MΩ

                      直流定电压(CV)    10Ω至40MΩ

                      相位量测(Phase)   10Ω至40MΩ                       

                电感：交流定电压(CV/AC)1.0uH至60H                   

                    相位量测(Phase)   1.0uH至60H                     

              二极管/三极管：0.1至9.99V

                Zener Diode:标准0.1V至50.0V                       

              电容：交流定电压(CV/AC)  0.1pF至300uF                                                

                    直流定电流(CC/DC)  3uF至100,000uF"          电流:2uA以上                      

                   相位量测(Phase)    1pF至300uF        

             功能测试: 0.00V至99.99V                           

隔离点电路      隔离点自动选择，每测试步骤5点                                             

测试值上下限设定范围     上限：+1%至+999%     下限：-1%至-999%                                              

可测试电路板尺寸    Size A：380mm(W)×310mm(D)×100(H)                                              

       Size B：450mm(W)×330mm(D)×100(H)

       Size C：480mm(W)×330mm(D)×100(H)