CHY-C2薄膜测厚仪,纸张测厚仪

CHY-C2薄膜测厚仪,纸张测厚仪

薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。

薄膜测厚仪采用进口优质传感器，测厚分辩率高达0.1微米，选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的**性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。

薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选)
分 辨 率:0.1μm         
测量速度：10次/min(可调)
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积：50mm2(薄膜)；〔200mm2（纸张）〕

了解详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询