可控硅动态关断时间测试系统
可控硅动态关断时间测试系统主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。
2. 技术要求
|
序号 |
项目 |
参数 |
备注 |
|
|
1
|
常规开通 |
通态电流 |
范围：200-10000A，连续可调； |
|
|
主电容电压 |
范围：300-7000V，连续可调； |
|
||
|
**导通电流宽度设定范围 |
10μs-5ms |
|
||
|
上升时间测量范围 |
0.01-20μs±3%±0.05μs |
|
||
|
开通反馈延迟时间测量范围 |
0.01-20μs±3%±0.05μs |
|
||
|
开通延迟时间测量范围 |
0.01-20μs±3%±0.05μs |
|
||
|
开通能量测量范围 |
0.01-200J±3%±0.1J |
|
||
|
开通di/dt测量范围 |
10-5000A/μs±3%±10A/μs |
|
||
|
2
|
常规关断 |
**关断电流 |
范围：200-10000A，连续可调； |
|
|
关断反馈延迟时间测量范围 |
0.01-20μs±3%±0.05μs |
|
||
|
关断延迟时间测量范围 |
0.01-40μs±3%±0.05μs |
|
||
|
关断能量测量范围 |
0.01-1000J±3%±0.1J |
|
||
|
断态电压上升率测量范围 |
10-5000V/μs±3%±10V/μs |
|
||
|
断态电流下降率测量范围 |
10-10000A/μs±3%±10A/μs |
|
||
|
*主回路寄生电感 |
≤300nH |
|
||
|
3
|
极限关断 |
**关断电流 |
范围：＜20000A； |
设备能力 |
|
4
|
数据采集和处理单元 |
示波器 |
带宽不低于500MHz，采样率不低于6.5Gs/s |
|
|
试品控制方式 |
光纤控制 |
|
2.1. 自动恒温压力夹具
|
序号 |
项目 |
参数 |
备注 |
|
1 |
工作方式 |
自动，气动 |
|
|
2 |
压力范围 |
10～130KN；分辨率0.1 KN，精度±5%±1KN。 |
|
|
3 |
温度控制范围 |
70～180℃，分辨率0.1℃； |
高压阳极控温器采用非接触式测温 |
[滨1]梳理本技术规格书引用到的标准
(广东半导体检测)
