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使用美泰MCT200仪器时应该注意的问题

基体金属特性。对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

基体金属厚度。检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可根据本手册中讲解的方法进行校准。

边缘效应。不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

曲率。不应在试件的弯曲表面上测量。

读数次数。通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，测厚仪，表面粗造时更应如此。

表面清洁度。测量前，应清除表面上的任何附着物质，涂层测厚仪可以测哪些涂层，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

美泰MCT200 涂层测厚仪仪器校准

提示信息对照表

仪器校准

为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。

校准标准片

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片，简称标准片。

校准箔。对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法，涂层测厚仪厂家直销，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。

有覆盖层的标准片。采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法，覆盖层必须是非磁性的。对于涡流方法，覆盖层必须是非导电的。

基体

为减小校准误差，对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似；对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。待测试件的金属基体厚度，要满足附录1中所规定的临界厚度。

可采用下面两种方法进行校准：

?在与待测工件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准；

?用一足够厚度的、电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，注意必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。

如果待测覆盖层的曲率很大，则选择有覆盖层的标准片时，其曲率应与待测试件的曲率相同。